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中國(guó)臺(tái)灣P-DUKE電源模塊高低溫測(cè)試的作用有哪些?
更新時(shí)間:2021-12-23   點(diǎn)擊次數(shù):2054次
  中國(guó)臺(tái)灣P-DUKE電源模塊在出廠前需要進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試,高低溫測(cè)試就是其中之一。模塊電源經(jīng)過(guò)高低溫測(cè)試,可以保證產(chǎn)品質(zhì)量,降低整個(gè)應(yīng)用過(guò)程中出現(xiàn)異常的概率,增加使用壽命。模塊電源常見(jiàn)的故障發(fā)生在前中后期。電源廠商無(wú)法精準(zhǔn)控制中后期,只能操作前期。因此,在將產(chǎn)品交付給客戶之前,必須在交付前排除問(wèn)題。
  模塊化電源脆化方法的關(guān)鍵是常溫負(fù)載下的脆化和高溫插件的高低溫測(cè)試。常見(jiàn)的一種是高溫脆化。根據(jù)高溫脆化,可以暴露商品元件的缺點(diǎn)或質(zhì)量差,從而提高產(chǎn)品的可靠性和可靠性。
 
 

中國(guó)臺(tái)灣P-DUKE電源模塊
 

 

  中國(guó)臺(tái)灣P-DUKE電源模塊高溫老化是指模擬產(chǎn)品高溫應(yīng)用的自然環(huán)境。高低溫試驗(yàn)時(shí)間通常規(guī)定為12-48小時(shí)。高溫老化有兩個(gè)步驟,一是在高溫自然環(huán)境下設(shè)置插件脆化。另一種是在高溫自然環(huán)境下使用自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)沖擊模塊電源。
  中國(guó)臺(tái)灣P-DUKE電源模塊高低溫測(cè)試的作用有哪些?
  1、當(dāng)電源模塊老化時(shí),可以通過(guò)電腦顯示器查看電源在工作姿態(tài)下的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),反映電源的應(yīng)用狀況。
  2、長(zhǎng)期脆化可監(jiān)測(cè)溫度變化引起的模塊特性變化。
  3、當(dāng)它變脆時(shí),在加工過(guò)程中檢查電源。該模塊可長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行,提高產(chǎn)品的可靠性。
  一般來(lái)說(shuō),在高低溫測(cè)試的整個(gè)過(guò)程中,電源的應(yīng)用條件比人們通常使用的自然環(huán)境更加嚴(yán)格。只有這樣的測(cè)試才能反映模塊電源的可靠性,也只有電源模塊廠商才能保證產(chǎn)品質(zhì)量。

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